20. květen - Světový den metrologie

Tématem Světového dne metrologie 2015 je „Měření a světlo“.

Tento motiv byl zvolen v souladu s iniciativou vyhlášenou organizací UNESCO Mezinárodní rok světla a technologií založených na světle (IYL 2015), která má zdůraznit klíčovou roli světelných a optických technologií v každodenním životě a jejich důležitost pro naši budoucnost a udržitelný rozvoj společnosti, v níž žijeme.

Metrologie hraje hlavní roli při aplikaci technologií založených na světle a naopak, světlo je základem mnoha důležitých nových prvků špičkových technologií.

Světový den metrologie je každoroční připomínkou výročí podpisu Metrické konvence sedmnácti státy dne 20. května 1875. Tato dohoda vytvořila rámec mezinárodní spolupráce v oblasti vědy o měření a jejího průmyslového, obchodního a společenského využití. Původní cíl Metrické konvence - celosvětová jednotnost měření - zůstává dodnes stejně důležitý, jako byl v roce 1875.

Projekt Světový den metrologie realizují společně BIPM (Mezinárodní úřad pro váhy a míry) a OIML (Mezinárodní organizace pro legální metrologii).

Oboru radiometrie a fotometrie bude věnována příloha časopisu Metrologie, která bude součástí některého z letošních čísel.

Více informací se dozvíte zde.